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Technische Regel [AKTUELL]

EIA JEP 163A
Selection of Burn-In/Life Test Conditions and Critical Parameters for QML Microcircuits

Titel (englisch)

Selection of Burn-In/Life Test Conditions and Critical Parameters for QML Microcircuits

Ausgabe 2022-12
Originalsprache Englisch
Preis Auf Anfrage
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