Norm
[AKTUELL]
BS EN IEC 60749-37
BS EN IEC 60749-37
Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prüfverfahren Prüfverfahren Fall der Leiterplatte unter Verwendung eines Beschleunigungs-Messgerätes
Titel (englisch)
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Board level drop test method using an accelerometer
