Norm [AKTUELL]

ISO 14606
Chemische Oberflächenanalyse - Tiefenprofilierung mit Sputtern - Optimierung durch Nutzung von Referenz-Schichtsystemen

Titel (englisch)

Surface chemical analysis - Sputter depth profiling - Optimization using layered systems as reference materials

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 062-08-16 AA - Chemische Oberflächenanalyse und Rastersondenmikroskopie  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 201/SC 4 - Untersuchungen an Tiefenprofilen  

Ausgabe 2022-11
Originalsprache Englisch
Preis ab 106,30 €
Kaufen bei DIN Media
Inhaltsverzeichnis

Ihr Kontakt

Steffen Jenkel

Am DIN-Platz, Burggrafenstr. 6
10787 Berlin

Zum Kontaktformular