Norm-Entwurf
OVE EN IEC 60749-5
OVE EN IEC 60749-5
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 5: Lebensdauerprüfung bei konstanter Temperatur und Feuchte unter elektrischer Beanspruchung (IEC 47/2770/CDV) (englische Fassung)
Titel (englisch)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test (IEC 47/2770/CDV) (english version)
