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Norm [AKTUELL]

BS IEC 63275-1
Semiconductor devices. Reliability test method for silicon carbide discrete metal-oxide semiconductor field effect transistors. Test method for bias temperature instability

Titel (englisch)

Semiconductor devices. Reliability test method for silicon carbide discrete metal-oxide semiconductor field effect transistors. Test method for bias temperature instability

Ausgabe 2022-10-05

Originalsprache Englisch

Preis ab 192,70 €

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