Norm [AKTUELL]

BS IEC 63275-1
Semiconductor devices. Reliability test method for silicon carbide discrete metal-oxide semiconductor field effect transistors. Test method for bias temperature instability

Titel (englisch)

Semiconductor devices. Reliability test method for silicon carbide discrete metal-oxide semiconductor field effect transistors. Test method for bias temperature instability

Ausgabe 2022-10-05
Originalsprache Englisch
Preis ab 192,70 €
Kaufen bei DIN Media
Inhaltsverzeichnis