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Norm [AKTUELL]

BS EN IEC 60749-28
Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prüfverfahren Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD). Charged Device Model (CDM). Device Level

Titel (englisch)

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Charged device model (CDM). device level

Ausgabe 2022-09-06
Originalsprache Englisch
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