Norm [AKTUELL]

ISO 17862
Chemische Oberflächenanalyse - Sekundärionen-Massenspektrometrie - Linearität der Intensitätsskale bei Einzelionen zählenden Flugzeit-Massenspektrometern

Titel (englisch)

Surface chemical analysis - Secondary ion mass spectrometry - Linearity of intensity scale in single ion counting time-of-flight mass analysers

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 062-08-16 AA - Chemische Oberflächenanalyse und Rastersondenmikroskopie  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 201/SC 6/WG 4 - Statische SIMS  

Ausgabe 2022-09
Originalsprache Englisch
Preis ab 106,30 €
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