Norm
[AKTUELL]
NF C96-022-10
; NF EN IEC 60749-10:2022-06-10
NF C96-022-10
; NF EN IEC 60749-10:2022-06-10
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 10: Mechanischer Schock - Bauelemente und Unterbaugruppe
Titel (englisch)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10: Mechanical shock - Device and subassembly