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Norm [AKTUELL]

NF C96-022-28 ; NF EN IEC 60749-28:2022-04-08
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Charged Device Model (CDM) - Device Level

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level

Ausgabe 2022-04-08
Originalsprache Französisch
Preis ab 144,20 €
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