Norm [AKTUELL]

NF C96-022-28 ; NF EN 60749-28:2017-06-30
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level

Ausgabe 2017-06-30
Originalsprache Französisch
Preis ab 156,80 €
Kaufen bei DIN Media
Inhaltsverzeichnis