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Norm [AKTUELL]

NF C96-022-28 ; NF EN 60749-28:2017-06-30
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level

Ausgabe 2017-06-30
Originalsprache Französisch
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