Norm-Entwurf

PR NF C96-284 ; PR NF EN IEC 63284
Halbleiterbauelemente - Zuverlässigkeits-Prüfverfahren durch induktives Lastschalten für Galliumnitrid-Transistoren

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Reliability test method by inductive load switching for gallium nitride transistors

Originalsprache Englisch , Französisch
Preis ab 81,80 €
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