Vornorm

ISO/TS 22933
Chemische Oberflächenanalyse - Sekundärionen-Massenspektrometrie - Verfahren zur Messung der Massenauflösung in SIMS

Titel (englisch)

Surface chemical analysis - Secondary ion mass spectrometry - Method for the measurement of mass resolution in SIMS

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 062-08-16 AA - Chemische Oberflächenanalyse und Rastersondenmikroskopie  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 201/SC 6 - Massenspektroskopien  

Ausgabe 2022-04
Originalsprache Englisch
Preis ab 106,30 €
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Inhaltsverzeichnis

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Steffen Jenkel

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