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Norm-Entwurf

OVE EN IEC 63364-1
Semiconductor devices - Semiconductor devices for IOT system - Part 1: Test method of sound variation detection (IEC 47/2742/CDV) (english version)

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Semiconductor devices for IOT system - Part 1: Test method of sound variation detection (IEC 47/2742/CDV) (english version)

Ausgabe 2022-02-15

Originalsprache Englisch

Preis ab 23,03 €

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