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Norm-Entwurf

OVE EN IEC 63287-2
Semiconductor devices - Guidelines for reliability qualification plans - Part 2: Concept of mission profile (IEC 47/2718/CDV) (english version)

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Guidelines for reliability qualification plans - Part 2: Concept of mission profile (IEC 47/2718/CDV) (english version)

Ausgabe 2021-11-01

Originalsprache Englisch

Preis ab 23,03 €

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