Norm [AKTUELL]

BS IEC 62047-40
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Test methods of micro-electromechanical inertial shock switch threshold

Titel (englisch)

Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Test methods of micro-electromechanical inertial shock switch threshold

Ausgabe 2021-09-14
Originalsprache Englisch
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