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Norm [AKTUELL]

BS IEC 62899-503-3
Printed electronics. Quality assessment. Measuring method of contact resistance for the printed thin film transistor. Transfer length method

Titel (englisch)

Printed electronics. Quality assessment. Measuring method of contact resistance for the printed thin film transistor. Transfer length method

Ausgabe 2021-09-08

Originalsprache Englisch

Preis ab 192,70 €

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