Einführungsbeitrag

Dieses Dokument verwendet sowohl den Falschlichtindex (VGI) als auch die Falschlichtverteilungsfunktion (GSF) als Maße der Falschlicht-Charakterisierung von optischen und elektrooptischen Systemen. Es werden Labormesstechniken in Form allgemeiner Richtlinien beschrieben und es werden Empfehlungen für die Leistungen der wesentlichen Funktionsgruppen gegeben. Die in diesem Dokument beschriebenen Messtechniken sind hauptsächlich für den sichtbaren Spektralbereich gültig. Für angrenzende Spektralbereiche sind möglicherweise Modifikationen erforderlich. Es werden gängige Methoden zur Festlegung der Prüfbedingungen und zur Darstellung der Prüfergebnisse angegeben. Zur Unterstützung der Vergleichbarkeit von VGI-Darstellungen werden Standard-Prüfbedingungen festgelegt. Dieses Dokument formuliert auch Richtlinien für die Bedienung der Messgeräte zur Erzielung genauer Ergebnisse. Ergebnisse von Messungen des Falschlichtindex, die mit Messausrüstungen erzielt wurden, die im Detail nicht den in dieser Internationalen Norm beschriebenen Konfigurationen entsprechen, werden dann als gültig akzeptiert, wenn das Messverfahren im Wesentlichen ähnlich ist (das heißt es wird das Verhältnis der Bestrahlungsstärke im Bild der schwarzen Fläche zur Bestrahlungsstärke des umgebenden hellen Feldes gemessen) und wenn die Messergebnisse mit der erforderlichen Genauigkeit mit Ergebnissen korreliert werden können, die mit einer Messausrüstung erzielt wurden, die exakt dieser Internationalen Norm entspricht. Gegenüber der 2019-03 zurückgezogenen Norm DIN 58186:1982-10 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) die Begriffe "Falschlichtindex", "Falschlichtindex – bandförmiges Messobjekt", "Falschlichtverteilungsfunktion" und "Falschlichtverteilungsfunktion – Strahlstärke" werden eingeführt; b) das analytische Verfahren wird als weiteres qualitatives Messverfahren vorgestellt; prinzipiell ermöglicht es, die Falschlichtsituation jeder realen Konstellation zu berechnen.; c) vollständige redaktionelle Überarbeitung. Dieses Dokument wurde vom Arbeitsausschuss NA 027-01-02 AA "Grundnormen der Optik", Arbeitskreis "Messverfahren für die Optik" im DIN-Normenausschuss Feinmechanik und Optik (NAFuO) erarbeitet.

Änderungsvermerk

Gegenüber der 2019-11 zurückgezogenen Norm DIN 58186:1982-10 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) die Begriffe "Falschlichtindex", "Falschlichtindex - bandförmiges Messobjekt", "Falschlichtverteilungsfunktion" und "Falschlichtverteilungsfunktion - Strahlstärke" werden eingeführt; b) das analytische Verfahren wird als weiteres qualitatives Messverfahren vorgestellt; prinzipiell ermöglicht es, die Falschlichtsituation jeder realen Konstellation zu berechnen; c) vollständige redaktionelle Überarbeitung.

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 027-01-02-01 AK - Messverfahren für die Optik  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 172/SC 1/WG 1 - Allgemeine optische Prüfverfahren