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Technische Regel [AKTUELL]

EIA JEP 184
Guideline for evaluating Bias Temperature Instability of Silicon Carbide Metal-Oxide-Semiconductor Devices for Power Electronic Conversion

Titel (englisch)

Guideline for evaluating Bias Temperature Instability of Silicon Carbide Metal-Oxide-Semiconductor Devices for Power Electronic Conversion

Ausgabe 2021-03

Originalsprache Englisch

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