Technische Regel [AKTUELL]

ISO/TR 15969
Chemische Oberflächenanalyse - Tiefenprofilanalyse - Messung der gesputterten Tiefe

Titel (englisch)

Surface chemical analysis - Depth profiling - Measurement of sputtered depth

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 062-08-16 AA - Chemische Oberflächenanalyse und Rastersondenmikroskopie  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 201/SC 4 - Untersuchungen an Tiefenprofilen  

Ausgabe 2021-03
Originalsprache Englisch
Preis ab 106,30 €
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Steffen Jenkel

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