Norm [AKTUELL]

ASTM E 2534
Standard Practice for Targeted Defect Detection Using Process Compensated Resonance Testing Via Swept Sine Input for Metallic and Non-Metallic Parts

Titel (englisch)

Standard Practice for Targeted Defect Detection Using Process Compensated Resonance Testing Via Swept Sine Input for Metallic and Non-Metallic Parts

Ausgabe 2020
Originalsprache Englisch
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