Norm
[AKTUELL]
NF C96-022-30
; NF EN IEC 60749-30:2020-09-25
NF C96-022-30
; NF EN IEC 60749-30:2020-09-25
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 30: Behandlung nicht hermetisch verkappter oberflächenmontierbarer Bauelemente vor Zuverlässigkeitsprüfungen
Titel (englisch)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing
