Norm
[AKTUELL]
NF C96-022-41
; NF EN IEC 60749-41:2020-09-04
NF C96-022-41
; NF EN IEC 60749-41:2020-09-04
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 41: Standardisierte Prüfverfahren für die Zuverlässigkeit von nichtflüchtigen Speicher-Bauelementen
Titel (englisch)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: standard reliability testing methods of non-volatile memory devices
