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Norm [AKTUELL]

UNE-EN IEC 60749-20
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20: Resistance of plastic encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat (Endorsed by Asociación Española de Normalización in November of 2020.)

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20: Resistance of plastic encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat (Endorsed by Asociación Española de Normalización in November of 2020.)

Ausgabe 2020-11-01

Originalsprache Englisch

Preis ab 79,20 €

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UNE-EN IEC 60749-20 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20: Resistance of plastic encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat (Endorsed by Asociación Española de Normalización in November of 2020.)

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