Norm [AKTUELL]

ISO 16531
Chemische Oberflächenanalyse - Tiefenprofilierung - Verfahren zur Einstellung des Ionenstrahls und damit verbundene Messung der Stromstärke oder der Stromdichte zur Tiefenprofilierung in AES und XPS

Titel (englisch)

Surface chemical analysis - Depth profiling - Methods for ion beam alignment and the associated measurement of current or current density for depth profiling in AES and XPS

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 062-08-16 AA - Chemische Oberflächenanalyse und Rastersondenmikroskopie  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 201/SC 4 - Untersuchungen an Tiefenprofilen  

Ausgabe 2020-10
Originalsprache Englisch
Preis ab 142,50 €
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