Norm
[AKTUELL]
BS EN IEC 60749-30
BS EN IEC 60749-30
Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prüfverfahren Behandlung nicht hermetisch verkappter oberflächenmontierbarer Bauelemente vor Zuverlässigkeitsprüfungen
Titel (englisch)
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing
