Norm [AKTUELL]

BS EN IEC 60749-41
Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prüfverfahren Standardisierte Prüfverfahren für die Zuverlässigkeit von nichtflüchtigen Speicher-Bauelementen

Titel (englisch)

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices

Ausgabe 2020-09-09
Originalsprache Englisch
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