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Norm [AKTUELL]

BS ISO 16413
Evaluation of thickness, density and interface width of thin films by X-ray reflectometry. Instrumental requirements, alignment and positioning, data collection, data analysis and reporting

Titel (englisch)

Evaluation of thickness, density and interface width of thin films by X-ray reflectometry. Instrumental requirements, alignment and positioning, data collection, data analysis and reporting

Ausgabe 2020-08-18

Originalsprache Englisch

Preis ab 313,50 €

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