Norm
[AKTUELL]
NF C93-735-504
; NF EN IEC 61189-5-504:2020-06-12
NF C93-735-504
; NF EN IEC 61189-5-504:2020-06-12
Prüfverfahren für Elektromaterialien, Leiterplatten und andere Verbindungsstrukturen und Baugruppen - Teil 5-504 : Allgemeine Prüfverfahren für Materialien und Baugruppen - Prüfung der ionischen Verunreinigung bei Prozessen (PICT)
Titel (englisch)
Test methods for electrical materials, printed board and other interconnection structures and assemblies - Part 5-504 : general test methods for materials and assemblies - Process ionic contamination testing (PICT)