Norm
[AKTUELL]
NF C96-022-9
; NF EN 60749-9:2017-06-16
NF C96-022-9
; NF EN 60749-9:2017-06-16
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 9: Beständigkeit der Kennzeichnung
Titel (englisch)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: permanence of marking