Norm
[AKTUELL]
OVE EN IEC 60749-18
OVE EN IEC 60749-18
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 18: Ionisierende Strahlung (Gesamtdosis) (( IEC 60749-18:2019) EN IEC 60749-18:2019) (deutsche Fassung)
Titel (englisch)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose) (( IEC 60749-18:2019) EN IEC 60749-18:2019) (german version)