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Norm [AKTUELL]

NF C96-022-3 ; NF EN 60749-3:2017-06-16
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 3: Äussere Sichtprüfung

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: external visual examination

Ausgabe 2017-06-16

Originalsprache Französisch

Preis ab 73,40 €

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