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Norm [AKTUELL]

NF C96-022-18 ; NF EN IEC 60749-18:2019-05-31
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 18: Ionisierende Strahlung (Gesamtdosis)

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose)

Ausgabe 2019-05-31

Originalsprache Französisch

Preis ab 105,40 €

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NF C96-022-18 ; NF EN IEC 60749-18:2019-05-31 Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 18: Ionisierende Strahlung (Gesamtdosis)

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