Norm
[AKTUELL]
NF C96-022-18
; NF EN IEC 60749-18:2019-05-31
NF C96-022-18
; NF EN IEC 60749-18:2019-05-31
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 18: Ionisierende Strahlung (Gesamtdosis)
Titel (englisch)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose)