DIN EN IEC 60749-17
; VDE 0884-749-17:2019-11
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 17: Neutronenbestrahlung (IEC 60749-17:2019); Deutsche Fassung EN IEC 60749-17:2019
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation (IEC 60749-17:2019); German version EN IEC 60749-17:2019
Einführungsbeitrag
Die Eignung von Halbleiterbauelementen für unterschiedliche Anwendungen ist auch von den klimatischen und mechanischen Umgebungseinflüssen oder anderen Umgebungsbedingungen abhängig, denen diese Bauelemente ausgesetzt werden. Die Normenreihe DIN EN 60749 enthält eine Vielzahl von unterschiedlichen Prüfverfahren hierzu. In diesem Teil der Normenreihe DIN EN 60749 ist das Prüfverfahren mit Neutronenbestrahlung, das sowohl auf integrierte Schaltungen als auch auf Einzelhalbleiterbauelemente anwendbar ist, enthalten. Diese zerstörende Prüfung wird angewandt, um die Anfälligkeit von Halbleiterbauelementen bezüglich der Degradation durch nichtionisierenden Energieverlust (NIEL) zu bestimmen. Der Zweck dieses Prüfverfahrens ist es, die Degradation entscheidender Kenngrößen von Halbleiterbauelementen als Funktion des Neutronenflusses zu ermitteln und zu Messen sowie zu bestimmen, ob festgelegte Kenngrößen von Halbleiterbauelementen sich innerhalb festgelegter Grenzwerte befinden, nachdem die Halbleiterbauelemente einem festgelegten Neutronenfluss ausgesetzt worden sind. Gegenüber DIN EN 60749-17:2003-09 soll die Neuausgabe an die aktuellen Festlegungen des Verfahrens 1017 von MIL-STD 883J angepasst werden, wodurch Verwendungseinschränkung des Dokumentes und eine Anforderung, die Gesamtionisierungsdosis zu begrenzen, entfallen. Ferner wurde die Übersetzung des gesamten Dokuments überarbeitet. Zuständig ist das DKE/K 631 "Halbleiterbauelemente" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik bei DIN und VDE.
Änderungsvermerk
Gegenüber DIN EN 60749-17:2003-09 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) Der Text wurde überarbeitet, um ihn an das Verfahren 1017 in MIL-STD 883J anzupassen; b) Verwendungseinschränkungen des Dokuments wurden entfernt; c) Anforderung, die Gesamtionisierungsdosis zu begrenzen, ist entfallen; d) Literaturhinweise eingefügt; e) Dokument an die aktuellen Gestaltungsregeln angepasst und redaktionelle Korrekturen in der deutschen Übersetzung vorgenommen; f) Aufnahme in das VDE-Vorschriftenwerk unter der VDE-Klassifikation 0884-749-17.
