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Norm [AKTUELL]

UNE-EN IEC 60749-17
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation (Endorsed by Asociación Española de Normalización in June of 2019.)

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation (Endorsed by Asociación Española de Normalización in June of 2019.)

Ausgabe 2019-06-01

Originalsprache Englisch

Preis ab 61,00 €

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