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Norm [AKTUELL]

BS ISO 22415
Surface chemical analysis. Secondary ion mass spectrometry. Method for determining yield volume in argon cluster sputter depth profiling of organic materials

Titel (englisch)

Surface chemical analysis. Secondary ion mass spectrometry. Method for determining yield volume in argon cluster sputter depth profiling of organic materials

Ausgabe 2019-05-14

Originalsprache Englisch

Preis ab 313,50 €

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