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Norm [AKTUELL]

BS IEC 62047-32
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Test method for the nonlinear vibration of MEMS resonators

Titel (englisch)

Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Test method for the nonlinear vibration of MEMS resonators

Ausgabe 2019-01-29

Originalsprache Englisch

Preis ab 192,70 €

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