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Norm [AKTUELL]

CIE S 026
CIE-System für die Metrologie optischer Strahlung für ipRGC-beeinflusste Antworten auf Licht

Titel (englisch)

CIE System for Metrology of Optical Radiation for ipRGC-Influenced Responses to Light

Ausgabe 2018

Originalsprache Englisch

Preis ab 173,50 €

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