Norm
[AKTUELL]
SN EN 60749-5
SN EN 60749-5
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 5: Lebensdauerprüfung bei konstanter Temperatur und Feuchte unter elektrischer Beanspruchung
Titel (englisch)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test
