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Norm [AKTUELL]

SN EN 60749-3
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 3: Äußere Sichtprüfung

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination

Ausgabe 2017-06
Originalsprache Deutsch
Preis ab 25,80 €
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