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Norm [AKTUELL]

ISO 13084
Chemische Oberflächenanalyse - Sekundärionen-Massenspektrometrie - Kalibrierung der Massenskale für einen Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometer

Titel (englisch)

Surface chemical analysis - Secondary ion mass spectrometry - Calibration of the mass scale for a time-of-flight secondary ion mass spectrometer

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 062-08-16 AA - Chemische Oberflächenanalyse und Rastersondenmikroskopie  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 201/SC 6/WG 4 - Statische SIMS  

Ausgabe 2018-11
Originalsprache Englisch
Preis ab 106,30 €
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Inhaltsverzeichnis

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Steffen Jenkel

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