Einführungsbeitrag

Dieses Dokument beschreibt die messtechnischen Merkmale von flächenhaften Topographiemethoden, die für die Messung von Oberflächentopographien ausgelegt sind. Es wurden bereits mehrere Normen (ISO 25178-601, -602, -603, -604, -605 und -606) entwickelt, um Begriffe und messtechnische Merkmale für einzelne Methoden zu definieren. Obgleich im Rahmen dieser Normenreihe die Konsistenz angestrebt wurde, können kleine Unterschiede zwischen diesen Normen auftreten. Daher hat das Komitee ISO/TC 213 im Jahre 2012 entschieden, alle gemeinsamen Aspekte in einer Norm ISO 25178-600 zu konzentrieren und in ISO 25178-60X nur die für die jeweiligen Methoden relevanten Begriffe zu beschreiben. Für die bestehenden Normen der ISO 25178-60X wird es notwendig sein, diese Entscheidung im Rahmen der nächsten Überarbeitung umzusetzen. Bis dahin ist es möglich, dass unterschiedliche Bezüge für einen einzelnen Begriff bestehen. Ferner sollten, wenn Unterschiede zwischen den aktuellen Normen der Normenreihe 60X entdeckt werden, die zu Konflikten führen können, die beteiligten Parteien sich einigen, wie diese Unterschiede ausgeräumt werden sollen. Das zuständige deutsche Normungsgremium ist der Arbeitsausschuss NA 152-03-03 AA "Oberflächen" im DIN-Normenausschuss Technische Grundlagen (NATG).

Dokument: zitiert andere Dokumente

Dokument: wird in anderen Dokumenten zitiert

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 152-03-03 AA - Oberflächen  

Zuständiges europäisches Arbeitsgremium

CEN/TC 290 - Geometrische Produktspezifikationen und -prüfung  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 213/WG 16 - Flächen- und profilhafte Oberflächenbeschreibung