Norm [AKTUELL]

ISO 14701
Chemische Oberflächenanalyse - Röntgenphotoelektronenspektroskopie - Messung der Siliziumoxiddicke

Titel (englisch)

Surface chemical analysis - X-ray photoelectron spectroscopy - Measurement of silicon oxide thickness

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 062-08-16 AA - Chemische Oberflächenanalyse und Rastersondenmikroskopie  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 201/SC 7/WG 2 - Quantifizierung und Interpretation der Daten bei der Elektronenspektroskopie  

Ausgabe 2018-11
Originalsprache Englisch
Preis ab 106,30 €
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