Norm
[AKTUELL]
OVE EN 62496-2
OVE EN 62496-2
Optische Leiterplatten - Grundlegende Prüf- und Messverfahren - Teil 2: Allgemeiner Leitfaden zur Festlegung der Bedingungen für die Messung der optischen Eigenschaften von optischen Leiterplatten (IEC 62496-2:2017) (deutsche Fassung)
Titel (englisch)
Optical circuit boards - Basic test and measurement procedures - Part 2: General guidance for definition of measurement conditions for optical characteristics of optical circuit boards (IEC 62496-2:2017) (german version)