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Norm-Entwurf

18/30375624 DC
BS EN 60749-20-1. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Part 20-1. Handling, packing, labelling and shipping of surface-mount devices sensitive to the combined effect of moisture and soldering heat

Titel (englisch)

BS EN 60749-20-1. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Part 20-1. Handling, packing, labelling and shipping of surface-mount devices sensitive to the combined effect of moisture and soldering heat

Ausgabe 2018-07-13
Originalsprache Englisch
Preis ab 34,30 €
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