Einführungsbeitrag

Dieses Dokument legt die physikalischen Grundlagen und praktischen Mittel für die Verfahren zur Bestimmung von Oberflächenunvollkommenheiten fest. Für mit dem Sichtbarkeitsverfahren spezifizierte Unvollkommenheiten werden zwei Prüfmethoden beschrieben. Die erste ist die visuelle Beurteilung der Oberfläche ohne jegliches Vergleichsnormal (IV V). Die zweite ist die visuelle Beurteilung einer Oberflächenunvollkommenheit im Vergleich zu einem Artefakt mit bekannter Helligkeit (IS V). Für mit dem Messverfahren spezifizierte Unvollkommenheiten werden drei Methoden beschrieben. Die erste ist die visuelle Beurteilung der Oberfläche ohne jegliches Vergleichsnormal (IV D). Die zweite ist die Abmessungsbeurteilung einer Oberflächenunvollkommenheit im Vergleich zu einem Artefakt mit bekannter Größe (IS D). Die dritte ist die Messung einer Oberflächenunvollkommenheit mit Vergrößerung und entweder einem Vergleichsartefakt mit bekannter Größe oder einer Strichplatte beziehungsweise einem Maßstab (IM D). Es sind Instrumente verfügbar, die eine objektive Messung der Helligkeit (Digital-Scatterometrie) oder der Größe (Digital-Mikroskopie) ermöglichen. Obwohl diese Instrumente für die Beurteilung von Oberflächenunvollkommenheiten benutzt werden können, liegen sie außerhalb des Anwendungsbereiches dieses Dokumentes. Dieses Dokument ist auf optische Oberflächen von Bauteilen oder Baugruppen wie Dubletts oder Tripletts anwendbar. Dieses Dokument kann auf optische Bauteile aus Kunststoff angewendet werden; jedoch wird auf die Tatsache aufmerksam gemacht, dass Beschädigungen von Kunststoffmaterialien sich optisch häufig stark von denen in härteren Materialien unterscheiden, da durch diese nicht immer Material entfernt wird, sondern durch Materialverdrängung Wellen in der Oberfläche entstehen können. Folglich können optische Vergleiche von Kratzern und Löchern in Kunststoffen mit ähnlichen Beschädigungen in Glas oder kristallinen Materialien zu sehr unterschiedlichen Ergebnissen führen. Für die Erarbeitung dieser Norm ist der DIN-Normenausschuss Feinmechanik und Optik (NAFuO), Arbeitsausschuss NA 027-01-02 AA "Grundnormen für die Optik", Arbeitskreis Messverfahren für die Optik, zuständig. Gegenüber DIN ISO 14997:2013-08 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) Die Norm wurde an die Änderungen, die in der neuen Ausgabe der ISO 10110-7 vorgenommen wurden, angepasst; b) es wurden zusätzliche Inhalte, die zur Aufnahme der Sichtbarkeitsprüfung erforderlich waren, hinzugefügt.

Änderungsvermerk

Gegenüber DIN ISO 14997:2013-08 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) Im Titel wurde das Wort "Komponenten" in "Elemente" geändert. b) die Norm wurde an die Änderungen, die in der neuen Ausgabe der ISO 10110-7 vorgenommen wurden, angepasst; c) es wurden zusätzliche Inhalte, die zur Aufnahme der Sichtbarkeitsprüfung erforderlich waren, hinzugefügt.

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Zuständiges nationales Arbeitsgremium

NA 027-01-02-01 AK - Messverfahren für die Optik  

Zuständiges internationales Arbeitsgremium

ISO/TC 172/SC 1/WG 1 - Allgemeine optische Prüfverfahren