Norm-Entwurf

17/30366375 DC
BS IEC 62373-1. Semiconductor devices. Bias-temperature stability test for metal-oxide semiconductor field-effect transistors (MOSFET). Part 1. Fast BTI Test method

Titel (englisch)

BS IEC 62373-1. Semiconductor devices. Bias-temperature stability test for metal-oxide semiconductor field-effect transistors (MOSFET). Part 1. Fast BTI Test method

Ausgabe 2017-11-30
Originalsprache Englisch
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