Einführungsbeitrag

Dieser Teil von IEC 60679 legt allgemeine Anforderungen für piezoelektrische, dielektrische und elektrostatische Oszillatoren, einschließlich dielektrische Resonatoroszillatoren (DRO) und Oszillatoren mit FBAR (nachfolgend als "Oszillatoren" bezeichnet), mit bewerteter Qualität fest, wobei entweder das Befähigungsanerkennungs- oder das Bauartanerkennungsverfahren angewendet wird. Im Abschnitt Begriffe und allgemeine Angaben werden die notwendigen Begriffe eingeführt, die bevorzugten Werte für Bemessungswerte und Eigenschaften beschrieben und die Kennzeichnung der Oszillatoren. Der Abschnitt Qualitätsbewertungsverfahren erläutert, dass für die Anerkennung von Oszillatoren mit Qualitätsbewertung zwei Verfahren anwendbar sind. Diese sind die Bauartanerkennung und die Befähigungsanerkennung. Um Oszillatoren anzuerkennen, dürfen entweder die Verfahren der Befähigungsanerkennung oder der Bauartanerkennung verwendet werden. Die Befähigungsanerkennung ist dann anzuwenden, wenn baulich ähnliche Oszillatoren nach gleichen Konstruktionsregeln mit einer Anzahl gleicher Verfahren hergestellt werden. Der Inhalt der Bauartspezifikation muss zwischen Hersteller und Kunde vereinbart werden. Die Freigabe zur Auslieferung ist fünf Jahre lang gültig, sofern nicht ein kürzerer Zeitraum in der Bauartspezifikation festgelegt wurde. Die relevante Spezifikation oder Norm muss die Prüfungen vorschreiben, die wiederholt werden müssen, um die Freigabe erneut zu validieren. Nur solche Parameter eines Bauelementes, die in einer Bauartspezifikation angegeben und geprüft worden sind, können als innerhalb der festgelegten Grenzwerte liegend betrachtet werden. Bei nicht festgelegten Parametern kann nicht davon ausgegangen werden, dass sie von Bauelement zu Bauelement gleich sind. Sollte es notwendig sein, weitere Parameter zu prüfen, sollte eine neue, erweiterte Bauartspezifikation angewendet werden. Zusätzliche Prüfverfahren müssen vollständig beschrieben und entsprechende Grenzwerte, annehmbare Qualitätsgrenzlagen (AQL) und Prüfniveaus festgelegt werden. Der normative Anhang A enthält Belastungsschaltungen für Logik-Betrieb, wie TTL und Schottky, CMOS, ECL und LVDS. Der normative Anhang B beschreibt die Prüfung des Latch-Up-Effektes. Bei der Prüfung des Latch-Up-Effektes unter statischen Bedingungen wird ein Bauteil höheren Beanspruchungen ausgesetzt, als es üblicherweise im Normalbetrieb anzutreffen ist, und unter schärferen Prüfbedingungen geprüft als bei dynamischen Prüfverfahren, die ähnliche Werte Stromstärke und Spannung verwenden. Diese Prüfung ist, falls sie nach den in dieser Norm festgelegten Verfahren durchgeführt wird, ein notwendiges und ausreichendes Verfahren für die Bestimmung der Empfindlichkeit oder Störfestigkeit von CMOS-IC-Oszillatoren gegenüber dem Latch-Up-Effekt. Der normative Anhang C beschreibt die Klassifizierung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen. Bei der elektrostatischen Entladung handelt es sich um die Übertragung elektrischer Ladung zwischen Körpern mit unterschiedlichem elektrostatischem Potential, die nahe beieinander liegen oder sich berühren. Der normative Anhang D beschreibt die Funktion digital gekoppelter Quarzoszillatoren. Zuständig ist das DKE/K 642 "Piezoelektrische Bauteile zur Frequenzstabilisierung und -selektion" der DKE Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE.

Änderungsvermerk

Gegenüber DIN EN 60679-1:2008-02 wurden folgende Änderungen vorgenommen: a) Titel geändert; b) zusätzliche Inhalte zu Oszillatoren mit OFW- und MEMS-Resonatoren in "Begriffe und allgemeine Angaben" aufgenommen; c) Messverfahren von IEC 60679-1:2007 entfernt (sie werden in die Reihe IEC 62884 verschoben); d) Inhalt von Anhang A erweitert; e) neuer Begriff DIXO (digital gekoppelter Quarzoszillator) hinzugefügt; f) neuer Begriff SSXO (Spreizspektrum-Quarzoszillator) hinzugefügt; g) Anhang D hinzugefügt.

Zuständiges nationales Arbeitsgremium

DKE/K 642 - Piezoelektrische Bauteile zur Frequenzstabilisierung und -selektion