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Norm [AKTUELL]

UNE-EN 60749-3
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination (Endorsed by Asociación Española de Normalización in July of 2017.)

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 3: External visual examination (Endorsed by Asociación Española de Normalización in July of 2017.)

Ausgabe 2017-07-01

Originalsprache Englisch

Preis ab 61,00 €

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