Norm
[AKTUELL]
ASTM F 980
ASTM F 980
Messung der schnellen Ausheilung von neutroneninduzierten Verschiebungsschäden in Siliciumhalbleitergeräten, metrisch
Titel (englisch)
Standard Guide for Measurement of Rapid Annealing of Neutron-Induced Displacement Damage in Silicon Semiconductor Devices