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Norm [AKTUELL]

ASTM F 980
Messung der schnellen Ausheilung von neutroneninduzierten Verschiebungsschäden in Siliciumhalbleitergeräten, metrisch

Titel (englisch)

Standard Guide for Measurement of Rapid Annealing of Neutron-Induced Displacement Damage in Silicon Semiconductor Devices

Ausgabe 2016

Originalsprache Englisch

Preis ab 67,40 €

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