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Norm [AKTUELL]

UNE-EN 62047-14
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 14: Forming limit measuring method of metallic film materials (Endorsed by AENOR in June of 2012.)

Titel (englisch)

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 14: Forming limit measuring method of metallic film materials (Endorsed by AENOR in June of 2012.)

Ausgabe 2012-06-01

Originalsprache Englisch

Preis ab 67,40 €

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